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製造商零件編號: | 8V182512IDGGREP |
製造商: | Texas Instruments |
部分說明: | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
數據表: | 8V182512IDGGREP 數據表 |
無鉛狀態 / RoHS 狀態: | 無鉛/符合 RoHS |
庫存狀況: | 有現貨 |
發貨地: | Hong Kong |
發貨方式: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
類型 | 描述 |
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系列 | - |
包裹 | Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel® |
零件狀態 | Active |
邏輯類型 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
電源電壓 | 2.7V ~ 3.6V |
位數 | 18 |
工作溫度 | -40°C ~ 85°C |
安裝類型 | Surface Mount |
包裝/箱 | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
供應商設備包 | 64-TSSOP |